产品别名 |
仪器校准，仪器计量,仪器计量检测校准校正 |
面向地区 |
校准周期的确定需要各种知识，考虑多种因素。若超过一个周期，可能引起质量特性的恶化，那是由于机械磨损、灰尘、性能和实验频次等所致。对这些因素变化的敏感性取决于测量仪器的类型。质量好的，可能受的影响小一些；质量不好的，可能受的影响大一些。因此，各个实验室应根据实际情况，确定每种测量仪器的校准周期。下面我们来了解下惠州仪器校准周期的科学确定方法！1、统计法根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，将测量仪器初步分组，然后根据一般的常规知识初步确定各组仪器的校准周期。对每一组测量仪器，统计在规定周期内超差或其他不合格的数目，计算在给定的周期内，这些仪器与该组合格仪器总数之比。在确定不合格测量仪器时，应排除明显损坏或由用户因可疑或缺陷而返回的仪器。如果不合格仪器所占的比例很高，应缩短校准周期。如果证明不合格仪器所占的比例很低，则延长校准周期可能是经济合理的。如果发现某一分组的仪器(或某一厂家制造的或某一型号)不能和组内其他仪器一样工作时，应将该组划为具有不同周期的其他组。2、比较法当每台测量仪器按规定的的校准周期进行校准，将校准数据和前几次的校准数据相比，如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的校准周期;如果发现超出允许的范围，则应缩短该仪器的校准周期。3、图表法测量仪器在每次校准中，选择有代表性的同一校准点，将它们的校准结果按时间描点，画成曲线，根据这些曲线计算出该仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从这些图表的数据中，可推算出佳的校准周期。4、小时时间法这种方法是确认校准周期以实际工作的小时数表示。可以将测量仪器与计时指示器相连，当指示器达到规定值时，将该仪器送回校准。这种方法在理论上的主要优点是，进行确认的仪器数目和确认费用与使用的时间成正比，此外可自动核对仪器的使用时间。例如我们使用某公司的示波器，不用连接计时器，可以直接在示波器上查到连续使用了多长时间，很方便管理。但是，这种方法在实践中有下列缺点:(1)当测量仪器在储存、搬运或其他情况发生漂移或损坏时，则不应使用本方法；(2)提供和安装合适的计时器，起点费用高，而且由于可能受到使用者干扰而需要在监督下进行，又增加了费用。
据东莞市世通仪器检测相关人员介绍，有不少用户来电咨询仪器校准周期方面的问题，看来，大家对于仪器校准周期有较多疑问。下面佛山仪器校准解答关于仪器校准周期的“三大”问题一、校准周期和期间核查的联系？国家有规定在校准周期内，设备维修、跟关键换零部件、仪器迁移等要重新校准，在校准周期内还要进行设备的期间核查，来设备的稳态和准确性。如果设备，这里指的是设备而不是尺子、圆规等，自己定义校准周期则要小于国家规定的周期。实验室可以根据仪器特点，使用频率等等特性，自定义校准周期，只要设备处于正确使用状态，能达到预期使用即可。通常需要提供期间核查等措施，来证明仪器处于良好状态。但校准周期也不是越长越好，因为时间越长，不确定度性越大。二、实验室设备的校准周期可以自己规定吗？一般设备校准后证书上都会推荐一年一校准，有人说一些设备事完全不用每年都校准的。设备的校准周期可以自己规定吗？如果按自己规定的周期校准的话评审组认可吗？是自己规定校准周期，因为校准周期是和设备的使用情况相关的。校准周期可以自己确定，但同时还要参照国内的计量法要求。其实在标准ISO/IEC17025中明确指明，校准证书不应该包含校准间隔的建议，但是如果与客户有协议，或被法律明确规定的除外。所以，可以调整设备校准周期，但前提是你们给出调整后的合理依据，否则，审核时仍然不会被接受。三、校准的问题应该问仪器设备公司吗？校准公司不了解设备的使用频率、保养情况、使用环境等因素，他给你定的校准周期相对不合理，比如一把钢尺，保管得很好，一年就用两三次；另一把钢尺，随便放工作台上，一天8个小时；校准公司给的校准周期肯定都是1年1次，这样对把尺子校准周期太短了，对第二把尺子校准周期又太长，三五个月可能就失准了。仅对于企业实验室，第三方实验室因为要通过资质认定，要求不一样，可能很多设备都需要检定。
卡尺校准注意的方法校准说明1.1卡尺校准条件1.1.1校准室内温度：20℃±5℃，湿度不超过：80%RH；1.1.2校准前，应将被校准的卡尺及标准块等校准设备同时置于平板或木桌上，其平衡温度时间见下表规定：测量范围/mm平衡温度时间/h置于平板上置于木桌上≤30012＞300～5001.53＞500～2000241.2校准方法1.2.1外观:目视观察。1.2.2各部份相互作用:目力观察和手动试验。1.2.3各部份相对位置:目力观察或用2级塞尺进行比较校准。1.2.4标尺标记的宽度和宽度差用工具显微镜或读数显微镜校准，主标尺、游标尺、圆标尺的标记至少各抽校3条，标记宽度差以受校标记中大与小宽度之差确定。1.2.5测量面的表面粗糙度:用表面粗糙度比较标准块进行比较校准。1.2.6测量面的平面度1.2.6.1外量爪测量面的平面度用0级刀口形直尺，深度卡尺的平面度用1级刀口形直尺以光隙法校准；深度卡尺校准时先将基准面置于1级平板上，移动尺身使用测量面与平板接触，紧固螺钉使基准面和测量面处在同一平面上；1.2.6.2校准时，分别在外量爪测量面、基准面与测量面的长边、短边和对角线位置上进行，其平面度根据各方位的间隙情况确定；1.3零值误差移动尺框，使游标卡尺或带表卡尺量爪两外测量面接触，对于深度游标卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触，分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察；1.4示值误差1.4.1,使用标准块进行外卡校准，受校准点的分布：对于测量范围在300MM以内的卡尺，不少于平均分配5个点，（如0~300MM的卡尺）其校验点可分为：51.2mm、101.2mm、141.5mm、201.5mm、291.8mm，对于300mm~500mm的卡尺，其校验点可分布为：80mm、161.2mm、240mm、321.5mm、400mm、491.8mm。根据实际情况可适当增加校准点。1.4.2使用标准块进行内卡校准，根据公司目前实际条件只能校验25mm以内的内卡，受校点不少于平均分配3个点，分别为：5mm、15mm、25mm。7.3.4.3示值误差的校准应在螺钉紧固和松开两种状态下进行；无论尺框紧固与否，卡尺的测量面和基准面与标准块表面接触应能正常滑动，接触时，有微动装置的应使用微动装置，各点示值误差以该点读数值与标准块尺寸之差确定。1.5示值变动性在机同条件下，移动尺框，使电子数显卡尺或带表卡尺量爪两外侧量面接触；对于电子数显深度卡尺，将基准面与平板接触，移动尺身，使测量面与平板接触，重复测量多次并读数，示值变动性以大与小读数的差值确定。1.4校准记录每校准完一规格卡尺，需将校准结果记录于《内校记录》及《计量器具履历表》上，以便追溯。1.5校准结果的处理和异常物料追踪1.5.1经校准合格的卡尺应贴上合格标签，不合格贴暂停标签，具体运作按《量测仪器控制程序》执行。1.5.2经过校准发现异常（含报废）卡尺的处理，按以下方案执行；a.校准不合格或使用过程发现失准的卡尺，仪校员须贴好“暂停使用”或“报废”证并通知使用部门暂停或停止使用。b.仪校员须分析卡尺失效参数是否会影响到此前测量产品的测试数据，上报品质经理，组织品质、业务、生产、工艺或工程等相关部门对该卡尺所检验、测量或试验结果的有效性、符合性进行评审，并根据评审结果做出相应的处理措施。C.若仪校员确认卡尺报废，卡尺的报废前对产品的测量质量影响超出客户的要求，则该卡尺在失准期间所检验的在库产品应贴上“待处理品票”的标识，并对产品进行再次确认，记录在《测量工具与物料追踪表》上。若产品已交付给客户时，品质部应立即通知业务部，由业务部通知客户并与客户协商处理方法，具体操作按参照《不合格品控制程序》的相关要求执行。8.参考文件与资料《量测仪器控制程序》《不合格品控制程序》
最新采购
