产品别名 |
镀层分析仪,XRF测厚仪,元素分析仪 |
面向地区 |
品牌 |
JPSPEC |
|
类型 |
智能元素分析 |
测量对象 |
全部生化项目 |
材质 |
铸铜 |
电源电压 |
220v |
类别 |
小型全自动 |
测量范围 |
硫:0.01%-99.99% |
测量时间 |
35s |
测量精度 |
0.1 |
加工定制 |
是 |
镀层无损成分分析XRF测厚仪thick880元素分析荧光光谱仪
Thick 880台式XRF镀层分析仪
硬件性能及优势
分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
仪器性能
元素分析范围从硫(S)到铀（U）
同时可以分析几十种以上元素，五层镀层
分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
仪器配置
高压电源 0 ~ 50KV
光管管流 0μA ~ 1000μA
摄像头
滤光片 可选择多种定制切换
探测器 美国进口探测器
多道分析器 ELEMENT INSTRUMENT-DMCP
样品腔尺寸 310*280*60（mm）
测试时间 10sec ~ 100sec
仪器环境要求
环境温度 15°C ~ 30°C
相对湿度 35% ~ 70%
电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ
分析软件 ELEMENT INSTRUMENT-FP定性定量分析软件
外部尺寸 380*372*362（mm）
重量 29Kg
最近来访记录
